可同時檢測副溶血弧菌和創傷弧菌的雙重LAMP方法
本發明公開了一種雙重LAMP檢測方法,該方法可同時檢測副溶血弧菌和創傷弧菌。屬于分子生物學技術領域。所述LAMP檢測體系中含有檢測副溶血弧菌基因OmpA和創傷弧菌metalloprotease基因的引物組,該引物組分別包含OmpA基因和etalloprotease基因的一對外引物F3、B3和一對內引物FIP、BIP;內引物BIP上分別含有PstI和BamHI酶切位點。該發明方法靈敏度高,特異型好,操作簡單,結果觀察直觀明了,檢測速度快。
青島農業大學
2021-04-13