BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統(tǒng)
產(chǎn)品詳細(xì)介紹BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統(tǒng)關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率, 電阻率,V-1裝置產(chǎn)品介紹: BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款全新的自動化熱電賽貝克系數(shù)測試儀,該儀器實現(xiàn)了一體化設(shè)計,無需手動,電腦軟件上可以直接抽真空,設(shè)置溫度,只要將樣品裝上之后,實現(xiàn)一鍵式的測量,電阻率及各個表格能夠直觀出現(xiàn),其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。對于熱電材料的研究,熱電性能測試是不可或缺的試驗數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點如下: 該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,自動出來測試數(shù)據(jù)和測試報告。一、適用范圍:1、精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。3、塊體和薄膜材料測均可以測試。4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。5、擁有自身專利分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。二、技術(shù)特點: 一體化設(shè)計,所有參數(shù)直接在電腦上操作,無須人工干預(yù)·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。?溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。·試樣采用獨特的焊偶機構(gòu),保證接觸電阻最小以及測量結(jié)果的高重現(xiàn)性。?每次可測試1-3個樣品.?采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。 ?采用原裝進口的采集儀,測試報告自動生成。三:主要技術(shù):測量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選同時測試樣品數(shù)量:1個,2個,3個 可選控溫精度:0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)升溫速率:0.01 –100K/min,極大得提高測試時間測量原理:塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法測量范圍:塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm分辨率:塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm測量精度:塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm熱電偶導(dǎo)距: ≥6 mm電 流: 0 to 160 Ma氣 氛:0 to 160 mA加熱電極相數(shù)/電壓:單相,220V,夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W圖1 單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
北京圓通科技地學(xué)儀器研究所
2021-08-23