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本發(fā)明公開了一種溶液法熒光粉膠薄膜涂覆方法及其在晶圓級發(fā)光二極管封裝中的應(yīng)用，屬于 LED 封裝領(lǐng)域。其包含：S1 將熒光粉膠涂覆在 LED 晶圓片上；S2 將 LED 晶圓片置于溫度為 50℃～200℃度的溶液中；S3 待熒光粉膠形貌穩(wěn)定后，將 LED 晶圓片從溶液中取出；S3 將 LED 晶圓片置于溫度在 50℃～200℃下加熱，使殘留在 LED晶圓片和熒光粉膠表面上的溶液蒸發(fā)并將熒光粉膠固化；S5 將晶圓片切割成小芯片單元。本發(fā)明方法操作簡單，成本低，可制備厚度極薄且厚度均勻度大于 0.95 的熒光粉膠薄膜，從而提高 LED 的光效、空間顏色均勻性以及產(chǎn)品一致性。該工藝可以廣泛的應(yīng)用于晶圓級發(fā)光二極管封裝中。

本發(fā)明公開了一種用于水泥基材料裂縫自修復(fù)的表面預(yù)涂覆方法，包括以下步驟：（１）將具有營養(yǎng)物固載的膠質(zhì)芽孢桿菌菌粉配制成菌液；（２）向菌液中添加親水性增稠劑，得到修復(fù)液；（３）配制弱酸預(yù)處理液，在噴涂修復(fù)液前首先噴涂弱酸預(yù)處理液至水泥基材料表面；（４）在水泥基材料表面噴涂弱酸預(yù)處理液１０ｍｉｎ后噴涂修復(fù)液。修復(fù)試驗(yàn)結(jié)果表明，７ｄ內(nèi)即可在水泥基材料裂縫處沉淀出碳酸鈣，連續(xù)修復(fù)３０ｄ后，平均裂寬度０．４ｍｍ以下的微裂縫可以完全修復(fù)。

成果描述：本發(fā)明公開了一種提高噴膜主液穩(wěn)定性的噴膜防水材料，按重量份包括以下組分：由主液和丙烯酸鹽組成,其重量組分為:主液+丙烯酸鈣液體+丙烯酸鋅固體,各組分的配比為:100份主液+5-20份30%丙烯酸鈣液體+0.8-2.0份丙烯酸鋅水溶液。本發(fā)明能夠有效解決噴膜主液自聚及團(tuán)聚，以提高噴膜主液穩(wěn)定性，確保噴膜施工的順利進(jìn)行，穩(wěn)定噴膜防水材料力學(xué)性能。市場前景分析：軌道交通基礎(chǔ)設(shè)施建設(shè)領(lǐng)域。與同類成果相比的優(yōu)勢分析：技術(shù)先進(jìn)，性價比較高。

本發(fā)明公開了一種提高噴膜主液穩(wěn)定性的噴膜防水材料，按重量份包括以下組分：由主液和丙烯酸鹽組成,其重量組分為:主液+丙烯酸鈣液體+丙烯酸鋅固體,各組分的配比為:100份主液+5-20份30%丙烯酸鈣液體+0.8-2.0份丙烯酸鋅水溶液。本發(fā)明能夠有效解決噴膜主液自聚及團(tuán)聚，以提高噴膜主液穩(wěn)定性，確保噴膜施工的順利進(jìn)行，穩(wěn)定噴膜防水材料力學(xué)性能。

涉及一種基于平面掃描三維成像的人體安檢系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)的安檢門框架內(nèi)裝有平面掃描驅(qū)動單元的掃描臂，掃描臂前后兩側(cè)分別裝有掃描單元的毫米波收發(fā)天線陣列，安檢門框架兩側(cè)分別裝有毫米波收發(fā)機(jī)，掃描臂上端連接平面掃描驅(qū)動單元的驅(qū)動機(jī)構(gòu)，控制單元連接掃描單元和平面掃描驅(qū)動單元，以使毫米波收發(fā)天線陣列進(jìn)行平面掃描；控制單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于控制所述數(shù)據(jù)采集單元采集處理來自掃描單元的檢測信號；圖像處理單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于根據(jù)采集數(shù)據(jù)和采集數(shù)據(jù)的空間位置信息合成三維全息圖像，并由顯示器顯示所述三維全息圖像。

本發(fā)明公開了一種多探針平面度檢測儀及其相應(yīng)的檢測方法，該檢測儀包括測量探針陣列、測量物鏡、干涉顯微鏡、CCD 成像裝置、垂直掃描工作臺和水平工作臺，其中干涉顯微鏡和 CCD 成像裝置設(shè)置在垂直掃描工作臺上，分別用于形成光的干涉條紋和干涉條紋的成像；測量探針陣列包括多個探針，這些探針各自的前端具有探針針尖，后端具有平面反射鏡；測量物鏡固定安裝在干涉顯微鏡下部并處于探針平面反射鏡上方，用于對光線進(jìn)行匯聚；水平工作臺設(shè)置在測量探針陣列下方用于放置被測樣品。按照本發(fā)明，能夠?qū)崿F(xiàn)多探針同時測量，充分利用光干涉的高精度特性并有效避免測量時被測表面材料光學(xué)性能的影響，相應(yīng)能夠?qū)崿F(xiàn)結(jié)構(gòu)簡單、測量精度高和成本低的效果。

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測，可對平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測量設(shè)備的前提下，通過采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測量儀等新型測量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國際先進(jìn)水平，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無法對各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測設(shè)備在對形狀誤差檢測時， 其評定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評定對產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問題而展開。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時，只要根據(jù)軟件提示選擇待評定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測量數(shù)據(jù)，不論測點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來，克服了傳統(tǒng)算法存在的無法對多種形狀誤差或同一種誤差不同的測點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測量儀等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測，可對平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測量設(shè)備的前提下，通過采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測量儀等新型測量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國際先進(jìn)水平，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無法對各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測設(shè)備在對形狀誤差檢測時， 其評定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評定對產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問題而展開。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時，只要根據(jù)軟件提示選擇待評定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測量數(shù)據(jù)，不論測點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來，克服了傳統(tǒng)算法存在的無法對多種形狀誤差或同一種誤差不同的測點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測量儀等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

本發(fā)明公開了一種基于電控液晶平面微透鏡的波前控制芯片。芯片包括面陣電控液晶平面微透鏡，其包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印D形化電極層、第一基片和第一增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初始取向?qū)印⒐搽姌O層、第二基片和第二增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電極層由 m×n 元陣列分布的子電極構(gòu)成，每個子電極均由繞圓周呈十字叉型均勻分布的四個條狀導(dǎo)電膜構(gòu)成，單個

本發(fā)明公開了一種基于電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡的紅外波束控制芯片。其包括電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列；電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印⒌谝浑姼綦x層、圖形化電極層、第一基片和第一紅外增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初·750·始取向?qū)印⒌诙姼綦x層、公共電極層、第二基片和第二紅外增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電