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需求名稱：LED顯示屏無人機(jī)校正系統(tǒng) 懸賞金額：30萬元 發(fā)榜企業(yè)：深圳市奧拓電子股份有限公司 支柱產(chǎn)業(yè)集群：新一代電子信息產(chǎn)業(yè)集群 需求領(lǐng)域：圖形圖像處理、LED關(guān)鍵設(shè)備及工藝、LED前沿與核心技術(shù)、軟件開發(fā) 技術(shù)關(guān)鍵詞：LED顯示屏 、無人機(jī)校正、亮暗線校正、色度校正、亮度校正

1、成果簡介 調(diào)制（又稱鎖相，Lock-in）紅外熱像 (熱波)無損檢測設(shè)備以頻率可調(diào)的簡諧波或階躍函數(shù)方式對檢測對象進(jìn)行連續(xù)光熱激勵(lì)，以紅外熱像的相位、幅值等信息檢測物體的內(nèi)部缺陷，具有單次檢測面積大、非接觸、可單面檢測、不必拆下總裝后的部件、可在外場使用等優(yōu)點(diǎn)。是一種適合于大型復(fù)合材料和多層膠接結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷檢測的可視化檢測設(shè)備。與脈沖熱像法相比檢測設(shè)備簡單、檢測深度更深，但檢測時(shí)間較長。主要檢測對象有：航空航天復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘；蜂窩結(jié)構(gòu)和夾層結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、積水；各類多層膠接結(jié)構(gòu)的脫粘；固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層和包覆層脫粘；壁畫空鼓等。該設(shè)備和技術(shù)是2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下的自主創(chuàng)新研究成果，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，有廣闊的應(yīng)用前景。 典型技術(shù)指標(biāo)： 加熱功率：1000～4000W； 圖像分辨率：320*240～620*480； 檢測時(shí)間：20-300s； 單次檢測面積：500mm*375mm及以上。 具體指標(biāo)可根據(jù)實(shí)際需要的技術(shù)、經(jīng)濟(jì)性能合理調(diào)整。2、應(yīng)用說明 用于各類材料、結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷的無損檢測，如航空、航天復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、異物和撞擊損傷，蜂窩結(jié)構(gòu)和夾層結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、積水，鋁蒙皮和金屬板背面的腐蝕，熱障涂層的內(nèi)部脫粘、裂紋，固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層和包覆層脫粘。應(yīng)用單位有航天二院201所、北京衛(wèi)星制造廠，技術(shù)合作單位有航天6院389廠、北京航空材料研究院。3、效益分析 該設(shè)備和技術(shù)是自2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下積累的自主創(chuàng)新研究成果，具有國際先進(jìn)的技術(shù)水平，有臺(tái)式、移動(dòng)、便攜形式，有廣闊的應(yīng)用前景。

1、成果簡介 脈沖紅外熱像（熱波）無損檢測設(shè)備以閃光燈為熱激勵(lì)源，以紅外熱成像方式檢測物體的內(nèi)部缺陷，具有單次檢測面積大、速度快、非接觸、可單面檢測、不必拆下總裝后的部件、可在外場使用等優(yōu)點(diǎn)。是一種適合于大型復(fù)合材料和金屬板殼結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷檢測的可視化、數(shù)字化、定量化的檢測設(shè)備。主要檢測對象有：航空航天復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、異物和撞擊缺陷；蜂窩結(jié)構(gòu)和夾層結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、積水；各類多層膠接結(jié)構(gòu)的脫膠；鋁蒙皮和金屬板背面的腐蝕；熱障涂層的內(nèi)部脫粘、厚度不均；固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層和包覆層脫粘；壁畫空鼓，等等。該設(shè)備和技術(shù)是自2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下積累的自主創(chuàng)新研究成果，有廣闊的應(yīng)用前景。 典型技術(shù)指標(biāo)： 脈沖能量：3000～6000J； 圖像分辨率：320*240～640*480； 檢測時(shí)間：10～20s； 單次檢測面積：500mm*375mm及以上。 具體指標(biāo)可根據(jù)實(shí)際需要的技術(shù)、經(jīng)濟(jì)性能合理調(diào)整。2、應(yīng)用說明 用于各類材料、結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷的無損檢測，如航空、航天復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、異物和撞擊損傷，蜂窩結(jié)構(gòu)和夾層結(jié)構(gòu)的內(nèi)部分層、脫粘、積水，鋁蒙皮和金屬板背面的腐蝕，熱障涂層的內(nèi)部脫粘、裂紋，固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層和包覆層脫粘。應(yīng)用單位有航天二院201所、北京衛(wèi)星制造廠，技術(shù)合作單位有航天6院389廠、北京航空材料研究院。3、效益分析 該設(shè)備和技術(shù)是自2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下積累的自主創(chuàng)新研究成果，具有國際先進(jìn)的技術(shù)水平，有臺(tái)式、移動(dòng)、便攜形式，有廣闊的應(yīng)用前景。

道岔作為鐵路線的咽喉，是線路最薄弱的環(huán)節(jié)，也是事故的多發(fā)點(diǎn)。當(dāng)前，許多科研機(jī)構(gòu)都在研究道岔的實(shí)時(shí)監(jiān)測裝置，但仍未能有效解決監(jiān)測裝置安裝及工作時(shí)的故障因素零引入的可靠監(jiān)測問題。而且隨著我國鐵路不斷高速發(fā)展，列車運(yùn)行速度不斷提高，鐵路道岔越發(fā)成為行車安全的關(guān)鍵，目前各種信息設(shè)備中的微機(jī)監(jiān)測系統(tǒng)中均空缺轉(zhuǎn)轍機(jī)缺口的自動(dòng)在線監(jiān)測功能。如能研制出一套有效的監(jiān)測設(shè)備，無論是社會(huì)效益還是市場價(jià)值都是非常明顯的。 針對這種現(xiàn)狀，我們將采用一種全新的處理方法： 1）從理論建模入手，具體分析各種道岔及轉(zhuǎn)轍機(jī)的工作特性，建立一套完善道岔及轉(zhuǎn)轍機(jī)的現(xiàn)場運(yùn)用技術(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)，建立道岔及轉(zhuǎn)轍機(jī)的“正常故障”的理論模型。 2）運(yùn)用一種全新的表示桿缺口監(jiān)測方法——數(shù)字圖測量法，這種非接觸式測量的方法可有效地解決安裝及工作的不安全因素的引入問題，而且測量精度高，技術(shù)指標(biāo)穩(wěn)定，不會(huì)因環(huán)境溫度、濕度或其它因素的變化而影響測量的精度，具有傳統(tǒng)電子或機(jī)械直測式方法所不能比擬的優(yōu)勢。 3）采用多傳感數(shù)據(jù)融合技術(shù)，解決道岔密貼程度的實(shí)時(shí)分析、轉(zhuǎn)轍機(jī)鎖閉及解鎖力的分析、轉(zhuǎn)轍機(jī)工作噪聲的分析、轉(zhuǎn)轍機(jī)內(nèi)部濕度的監(jiān)測等問題，為實(shí)時(shí)分析預(yù)測轉(zhuǎn)轍機(jī)故障提供可靠的理論數(shù)據(jù)，可按第一步建立的“正常-故障”理論模型自動(dòng)做出判斷，有效解決道岔設(shè)備的檢修更換頭號(hào)難題。 4）利用成熟的現(xiàn)場工業(yè)總線技術(shù)，用一對普通信號(hào)電纜可實(shí)現(xiàn)全站道岔狀態(tài)數(shù)據(jù)的可靠傳輸。 5）應(yīng)用工業(yè)DSP處理技術(shù)，系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高度集成，解決成本及安裝體積問題。 6）按站段模式組建道岔狀態(tài)數(shù)據(jù)庫，融入電務(wù)微機(jī)監(jiān)測系統(tǒng)，為降你電務(wù)設(shè)備故障提供有效的自動(dòng)化手段。

通過設(shè)計(jì)一個(gè)12bit 5MHz ADC，并經(jīng)過流片測試，驗(yàn)證了校正方法有效性。測試結(jié)果表明，在1.2V/2.5V電源電壓下，ADC的微分非線性度

1、成果簡介 超聲振動(dòng)紅外熱像（熱波）無損檢測設(shè)備以超聲激振被檢測對象，以紅外熱成像方式檢測物體的內(nèi)部缺陷，具有單次檢測面積大、速度快、可單面檢測、不必拆下總裝后的部件、可在外場使用等優(yōu)點(diǎn)。是一種適合于任何固體材料結(jié)構(gòu)內(nèi)部裂紋、分層或脫粘缺陷檢測的可視化檢測設(shè)備。主要檢測對象有：材料內(nèi)部微裂紋，復(fù)合材料的分層、脫粘和撞擊損傷，熱障涂層和陶瓷部件上的微裂紋，管道內(nèi)壁的裂紋和腐蝕坑，C/C復(fù)合材料上的裂紋，固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層脫粘，航天膠接結(jié)構(gòu)脫粘，焊縫內(nèi)部裂紋。該設(shè)備和技術(shù)是2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下的自主創(chuàng)新研究成果，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，有廣闊的應(yīng)用前景。 典型技術(shù)指標(biāo)： 最大激振功率：50-2600W； 圖像分辨率：320*240～620*480； 檢測時(shí)間：5s； 單次檢測面積：500mm*375mm及以上。 具體指標(biāo)可根據(jù)實(shí)際需要的技術(shù)、經(jīng)濟(jì)性能合理調(diào)整。2、應(yīng)用說明 用于各類材料、結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷的無損檢測，如：材料內(nèi)部微裂紋，復(fù)合材料的分層、脫粘和撞擊損傷，熱障涂層和陶瓷部件上的微裂紋、脫粘，管道內(nèi)壁的裂紋和腐蝕坑，C/C復(fù)合材料上的裂紋，固體發(fā)動(dòng)機(jī)絕熱層脫粘，航天膠接結(jié)構(gòu)脫粘，焊縫內(nèi)部裂紋。應(yīng)用單位有航天二院201所、北京衛(wèi)星制造廠，技術(shù)合作單位有航天6院389廠、北京航空材料研究院。3、效益分析該設(shè)備和技術(shù)是自2001年以來4.5次國家自然科學(xué)基金、3次航空科學(xué)基金、2次航天支撐技術(shù)基金共同資助下積累的自主創(chuàng)新研究成果，具有國際先進(jìn)的技術(shù)水平，有臺(tái)式、移動(dòng)、便攜形式，有廣闊的應(yīng)用前景。

本發(fā)明公開了一種移動(dòng)終端視頻的電子穩(wěn)像方法，在移動(dòng)終端攝像過程中，當(dāng)攝像頭由于干擾產(chǎn)生無意識(shí)抖動(dòng)時(shí)，利用移動(dòng)終端內(nèi)的姿態(tài)傳感器獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算出攝像頭的運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)，并將這些數(shù)據(jù)通過換算得到每一幀圖像的運(yùn)動(dòng)矢量，根據(jù)運(yùn)動(dòng)矢量對每一幀圖像進(jìn)行平移及旋轉(zhuǎn)操作后輸出顯示，從而達(dá)到穩(wěn)像的效果。由于本發(fā)明由移動(dòng)終端內(nèi)置姿態(tài)傳感器直接獲得運(yùn)動(dòng)矢量，省略了一般電子穩(wěn)像在獲取運(yùn)動(dòng)矢量時(shí)花費(fèi)較大和因存在誤匹配而有誤差的運(yùn)動(dòng)估計(jì)環(huán)節(jié)，因

本發(fā)明公開了一種氣動(dòng)熱輻射圖像自動(dòng)校正方法，包括：利用基于加權(quán)平方最小的圖像平滑算法濾除原始?xì)鈩?dòng)熱輻射圖像 Z 中的噪聲和細(xì)節(jié)；將灰度偏移場 B 用 K 階二維多項(xiàng)式表示；利用最小二乘法估 計(jì) 灰 度 偏 移 場 ， 估 計(jì) 的 灰 度 偏 移 場 <imgfile=""DDA0000795251010000011.GIF"" wi=""46"" he=""67"" />為如下最 小 化 問 題 的 解 ： <i

本實(shí)用新型公開了一種無需進(jìn)行水平校正的稱重裝置。稱重平臺(tái)上固定安裝有托盤，稱重平臺(tái)安裝有傾角傳感器，傾角傳感器測量稱重平臺(tái)的傾角，托盤底面經(jīng)稱重傳感器固定連接，稱重傳感器測量托盤上的重量。本實(shí)用新型無需進(jìn)行水平校準(zhǔn)，可用于高精度小誤差地檢測物體的真實(shí)重量。

基于LMS校正理論，在逐次逼近ADC結(jié)構(gòu)中引入?yún)⒖茧娙荩溆嗨袉挝浑娙莸臄?shù)字權(quán)重相對參考電容進(jìn)行數(shù)字后臺(tái)校正。每個(gè)輸入信號(hào)被量化兩次，第二次量化時(shí)待校正的單位電容與終端電容交換位置。兩次量化結(jié)果之差被用來校正單位電容的數(shù)字權(quán)重。所有校正過程全部在開機(jī)上電后自動(dòng)完成，并且不受溫度、濕度等環(huán)境條件變化的影響。 通過設(shè)計(jì)一個(gè)12bit 5MHz ADC，并經(jīng)過流片測試，驗(yàn)證了校正方法有效性。測試結(jié)果表明，在1.2V/2.5V電源電壓下，ADC的微分非線性度<±1LSB，積分非線性度<±1.5LSB，動(dòng)態(tài)范圍≥83dB，信噪比優(yōu)于65dB，有效位在10.7位以上（注：相同條件下，無校正算法ADC的有效位僅為9.1位，且電容陣列面積成倍增長）。與市場同類ADC產(chǎn)品相比較，在電壓和功耗要求相同的條件下，性能具體明顯優(yōu)勢。 該校正技術(shù)可用來校正傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)逐次逼近ADC電容失配，提高ADC分辨精度，減小芯片面積。應(yīng)用該校正技術(shù)的ADC，可用在高精度傳感器讀出電路、可穿戴電子產(chǎn)品、精密探測儀器等領(lǐng)域。