成果簡介： 1、主要功能和應(yīng)用領(lǐng)域： 本設(shè)備由多通道圖像采集模塊、復(fù)雜光學(xué)模塊、復(fù)雜照明模塊、精密機械運動模塊、分布式大數(shù)據(jù)分析處理模塊等多個模塊組成。能夠?qū)崿F(xiàn)對第4.5代以上的液晶顯示器件ITO、銀漿線路的快速檢測并輸出報表。利用高分辨率線陣相機陣列和光源對PET基材的觸摸屏進行成像，并利用計算機圖像處理、模式識別及人工智能的理論與技術(shù)，拍攝到的觸摸屏圖像進行研究，通過對各種線路和特征進行特征匹配與邊緣分析，分別檢測上述線路缺陷并自動報告，從而達到在線自動檢測觸摸屏線路缺陷的目的，作為生產(chǎn)線上品質(zhì)保證的重要方法。 2、特色及先進性： ● 針對ITO材料的高透光率：采用特殊設(shè)計的高功率光源和精密光學(xué)成像系統(tǒng)，確保能夠采集到圖像清晰、缺陷顯著、ITO線路對比度高的圖片，為算法處理達到不漏檢和低誤檢打下良好基礎(chǔ)。 ● 針對ITO線路不規(guī)則：由于ITO線路的形式多樣且比較復(fù)雜，需要采用樣品和模板配準(zhǔn)、像素值直接對比、線路邊緣對比、周期性判斷及DRC方法等算法方案同時進行處理。 ● 針對軟材質(zhì)基板（PET）：由于基板為軟材質(zhì)，并且基板為600*600 mm的大規(guī)格尺寸，采用高精度的光學(xué)平臺和自動快速對焦系統(tǒng)，保證大尺寸范圍內(nèi)圖像采集的清晰度。 ● 針對缺陷類型繁多：采取提取局部特征并結(jié)合周期性和對比性完成缺陷檢測，針對不同類型的缺陷進行建標(biāo)以達到較高的檢測效率，通過框選候選(潛在)缺陷位置，采用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法進行自主機器學(xué)習(xí)，不斷匹配各種可能存在的缺陷類型，并結(jié)合不同的算法模塊進行檢測，寬進嚴出保證檢測效果。 3、技術(shù)指標(biāo)： ● 檢測對象： PET和電子玻璃為基板的ITO。 ● 檢測項目：線路過寬、過窄、多線、線斷、線裂、連線、毛刺、爆點；膜刮痕、導(dǎo)電薄膜異物、氣泡、針孔、凸出、凹陷。 ● 臺面要求：臺面能滿足檢測600mm×600mm以下尺寸產(chǎn)品。 ● 檢測精度：能檢測最小線寬間距為20um。 ● 最大檢測面積：檢測精度為20um時，最大檢測面積是600mm*600mm。 ● 檢測效率：單張、單次檢測時間小于等于30秒。 ● 檢測效果：錯報率控制在1%以下,檢出率99%以上。 ● 設(shè)備穩(wěn)定性：設(shè)備至少可5*24小時連續(xù)無故障工作。 4、關(guān)鍵問題和實施效果 該設(shè)備可廣泛應(yīng)用于觸摸屏行業(yè)、LCD行業(yè)、太陽能行業(yè)和LED行業(yè)等領(lǐng)域，可滿足觸摸屏行業(yè)需求。以電子玻璃、PET為基板的ITO線路對于最終產(chǎn)品性能的影響是非常顯著的，如線路發(fā)生缺陷，則會直接造成產(chǎn)品功能缺陷，而越靠近出貨端檢出缺陷，對于廠家來說修復(fù)的成本越高，同時廢品的損失越高。該設(shè)備可以在最早的工藝流程上對線路進行檢測，從而整體提高生產(chǎn)廠家的制程控制能力。 該設(shè)備采用復(fù)雜高分辨率多通道線陣相機陣列進行光學(xué)成像，同時配合精密運動平臺實現(xiàn)2.5微米分辨率的圖像采集，其三維組裝圖如下圖所示。