本發明提供一種基于T形結構的納米線熱導率的測量裝置及方法,將熱線兩端搭接在熱沉上,將待測線搭接在熱線和熱沉之間,由于部分熱量沿待測線方向導走,沿熱線方向的溫度分布將發生變化,即由拋物線形變為雙拱形,熱線平均溫度將明顯下降。通過測量熱線的平均溫升的變化,就可求解得到待測線引入的總熱阻,從而求得待測線的熱導率。該裝置結構簡單,成本低廉,測量精度高,可用于包括導電、非導電細絲材料熱導率的測量,具有很大的通用性。