光熱探針技術是建立在光聲顯微鏡和激光掃描顯微鏡基礎上,利用調制光反射技術發展起來的一種新型探針技術。利用一束強度調制激光聚焦在樣品表面,對半導體樣品,入射的光能激發的光生載流子,從而引起表面光反射率變化,用另一束探測光可檢測此反射率的變化。由于光生載流子數目直接與注入的離子濃度相關,因此可測定表面注入離子濃度的分布。 近年來,曾利用本儀器