本發(fā)明公開(kāi)了一種倒裝 LED 芯片在線檢測(cè)的收光方法,該收光 測(cè)試方法包括如下步驟:待測(cè)試芯片被移動(dòng)至積分球收光口的上方; 設(shè)置于積分球下方的積分球升降裝置向上運(yùn)動(dòng),使所積分球的收光口 對(duì)準(zhǔn)所述待測(cè)試的倒裝 LED 芯片的發(fā)光側(cè),并且使設(shè)置于積分球收光 口處的板片貼緊裝載待測(cè)試倒裝 LED 芯片的盤片。按照本發(fā)明設(shè)計(jì)的 收光測(cè)試組件,能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機(jī)和發(fā)光面不同側(cè)的 問(wèn)題,具有高的收光精度,尤其與倒裝 LED 芯片在線檢測(cè)裝置配合使 用,能夠顯著提高性能,實(shí)現(xiàn)倒裝 LED 芯片的
掃碼關(guān)注,查看更多科技成果