本發明公開了一種提高硬盤可靠性的方法,包括:獲取不同采 樣時刻硬盤陣列的參數,計算不同采樣時刻硬盤陣列的參數所對應的 隸屬值,包括溫度、性能、運行時間以及功耗,獲取硬盤溫度、性能、 運行時間對應的隸屬值的平均值 A、B、C 以及功耗對應隸屬值的最小 值 D,獲取該硬盤陣列的聚合值 F=aA+bB+cC+dD,其中 a=0.1,b=0.2, c=0.3,d=0.4,改變磁盤陣列的大小,并重復上述步驟,以獲取不同大 小磁