AlGaN/GaN HMET射頻器件有一原生的電子信道,為一常開器件,不利于射頻功率放大器電路設計與安全性。如果器件能夠實現常關特性,則射頻功率放大器電路可因此簡化。然而,目前常見實現器件常關特性工藝需要對半導體層進行刻蝕,而刻蝕工藝會對器件引入缺陷,降低器件特性,因此市面上的常關型AlGaN/GaN HMET射頻器件非常少見。 項目階段: 試用 會員登錄可查看 合作方式、專利情況及聯系方式 登 錄 注 冊 掃碼關注,查看更多科技成果