成果簡介:
晶型與顆粒度是晶體質(zhì)量的兩個重要指標(biāo),不僅直接關(guān)系到產(chǎn)品的穩(wěn)定性和性能,而且還關(guān)系到工藝開發(fā)過程的可操作性與能耗。本實驗室自主開發(fā)一套晶型與粒度可控的新型結(jié)晶技術(shù),擁有PAT在線檢測平臺和包括單晶X-射線衍射儀、粉末X-ray衍射儀、固體核磁、SEM、TG-DSC等在內(nèi)的表征大型表征設(shè)備,以及大型模擬計算平臺和劍橋晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫,可以實現(xiàn)從分子
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