? 成果簡介:光學投影式三維形貌測量方法是一種非接觸、高精度、快速獲取被測物三維形貌的方法。基于此方法開發研制而成的測量系統可在1分鐘內獲取測量區域10cm2-400cm2內被測物三維形貌,測量分辨率可達到200μm。該系統硬件部分包括小型化條紋投射裝置、高分辨率數字CCD相機和控制電路,自行編寫的軟件擁有儀器控制、圖像采集、分析和可視化等功能并嵌套相位解包裹專用算法。便攜式設計使該套系統可方便應用于車間、廠礦等各種測量環境。? 項目來源:自