利用諧波幅值判定飽和的高動態三維測量方法

先進制造與自動化

本發明公開了一種利用諧波幅值判定飽和的高動態三維測量方法。使用投影裝置向三維目標投射多組結構光圖案序列，并用攝像裝置進行同步拍攝，通過控制掃描參數獲取具有不同的亮度的結構光圖像組，對每組圖像分別計算其時間序列的非主頻成分幅值，把非主頻成分幅值小于一定閾值的像素區域為判定為非亮度飽和區域，對每一個像素點在該點未飽和的圖像組中找到亮度最大的一組，并用這組圖像計算該像素點的相位，最后根據相位和系統標定參數計算出物體表面的三維坐標。本發明可用于測量反射率變化大的物體的三維面形。本發明能精確穩定地判定飽和區域，達到較高的三維測量精度。

使用投影裝置向三維目標投射多組結構光圖案序列，并用攝像裝置進行同步拍攝，通過控制掃描參數獲取具有不同的亮度的結構光圖像組，對每組圖像分別計算其時間序列的非主頻成分幅值，把非主頻成分幅值小于一定閾值的像素區域為判定為非亮度飽和區域，對每一個像素點在該點未飽和的圖像組中找到亮度最大的一組，并用這組圖像計算該像素點的相位，最后根據相位和系統標定參數計算出物體表面的三維坐標。

市場廣闊。