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一種基于叉指電極的高分子層內(nèi)剪切取向測(cè)量方法
2021-04-14 00:00:00
云上高博會(huì)
http://www.g2h0uzv.xyz
關(guān)鍵詞：
叉指電極
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項(xiàng)目成果/簡(jiǎn)介:
本發(fā)明屬于高分子取向測(cè)量的技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于叉
指電極的高分子層內(nèi)剪切取向測(cè)量方法，包括如下步驟：S1 將一對(duì)叉
指電極探頭緊貼于待測(cè)材料表面；S2 設(shè)置叉指電極的探測(cè)深度并測(cè)試
待 測(cè) 材 料 在 不 同 深 度 位 置 上 兩 個(gè) 方 向 的 電 容 信 號(hào) 大 小 <img
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