關于電荷密度波序的高精度實驗探測

新材料及其應用

運用先進的相干共振X射線彈性散射，研究了經典的電荷密度波材料三碲化鋯（ZrTe3 ）中的雜質效應。

未應用

該項研究使用的是雜質密度很低的 ZrTe3 高質量單晶。通過在倒易空間的掃描及重構，研究者觀察到了倒易空間中共存的兩個衍射信號[Fig. 1 (a)]。在臨近電荷密度波轉變溫度TCDW = 64 K時，這兩個信號出現在同樣的動量位置上。隨著降溫的進行，兩個信號逐漸分離[Fig. 1 (a-b)]，并表現出非常不同的變溫行為[Fig. 1 (d-f)]。這一實驗結果顯示存在另一個特征溫度，約為TLO = 56 K，在該溫度下長程電荷序方才形成。根據分析，這兩個峰中高強度且更銳利的峰是電荷密度波序的衍射峰，而另一個弱而且寬的峰很可能來源于雜質誘導的、類同于所謂Friedel 振蕩的電荷密度調制。